【グラフ２】

記号 F D
周波数(HZ) TS850　LSB TS850　USB TS850　LSB
455　3.1-3.0		 TS850　USB
455　3.1-3.0
455 2.7 2.7 3.1 3.1
8.83 2.7 2.7 3.0 3.0
条件 FLAT FLAT FLAT FLAT
低域側CUTOFF 300 350 160 160
高域側CUTOFF 2800 2800 3100 3080
帯域幅 2500 2450 2940 2920
平均帯域幅 2475 2930
Fを基準にした差 0 455
備考 オリジナル ＡＦ段定数変更後

オリジナルのＴＳ８５０の２．７Ｋ－２．７Ｋ帯域と３．１Ｋ-３．０Ｋのフィルタを
　　装着した場合の帯域特性の比較グラフです　　　　　（　Ｆ　VS　D　）　　　　　

① 帯域はオリジナルが平均２４７５Ｈｚなのに対してＤは２９３０Ｈｚと４５５Ｈｚの格差があります。
.
② 帯域の肩の部分の落ち方が異なります。
これはクリスタルとセラミックの差であると考えられます。
.
③ オリジナルの部分がデータが足りないですが、AF段の定数を変更してしまったので今からは戻せませんのでこのままとします。




【グラフ３】

記号 D E
周波数(HZ) TS850　LSB
455　3.1-3.0		 TS850　USB
455　3.1-3.0		 TS850　LSB
455
3.0-through　		 TS850　USB
455
3.0-through　
455 3.1 3.1 3.1 3.1
8.83 3.0 3.0 through through
条件 FLAT FLAT FLAT FLAT
低域側CUTOFF 160 160 125 125
高域側CUTOFF 3100 3080 3200 3200
帯域幅 2940 2920 3075 3075
平均帯域幅 2930 3075
Dを基準にした差 0 145


４５５KHzに３．１Ｋを固定して８．８３MHｚを３．０Kのフィルタの場合と８．８３ＭＨｚを
スルーにした場合の帯域特性の比較グラフです　　　　　　（　D　VS　E　）


① 帯域は８．８３MHｚスルーが平均３０７５Ｈｚなのに対してＤは２９３０Ｈｚと１４５Ｈｚの格差があります。
.
② スルーにしたほうが高域も低域も伸びています。
特性はLSB/USBに少し高域側で減衰特性に差が見られますがこれはスルーの状態でキャリアポイントを調整していないことが原因だと思います。
調整すれば全く同じに合せられる可能性があります。